应用微型计算机改造Mφ4型测微光度计

栗志

本文介绍经微机化改造后的Mφ4型测微光度计,能由程序控制,自动测量底片的透过率和光学密度。自动处理测片数据,得到辐射强度、谱线轮廓和等值宽度等数据。测量精度、工作效率有很大提高,性能达到七十年代末英国产品3CS的水平。

10.14005/j.cnki.issn1672-7673.1986.01.015

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