多源法(Ir192)检测超限设备的应用

介绍多源法(Ir192)检测超限设备技术的原理,针对大型设备射线检测的难点,将多个γ源进行捆绑合并为一颗γ源进行曝光,并对其原理和可行性进行了论证。检测结果表明多源法射线检测可以达到国家标准的质量要求,比单源透照提高工效近60%。透照时间明显降低。

多源法(Ir192); 废片率; 透照时间; 源强度; 双焦点;

10.13689/j.cnki.cn21-1230/th.2014.03.011

TH878

2336-383102K
在线咨询 用户反馈